NI：力争成为半导体测试领域的领导者

在以前，芯片厂商的测试设备选择主要有两种类型：一种是使用专门面向CPU和闪存等数字芯片为典型代表的传统ATE，另一种是为混合信号和MEMS等芯片为典型代表搭建的DIY测试设备。前者因为有标准化的测试标准，多年积累的ATE厂商在其中占有很大的份额，且很难被其他新入者所撼动，这是毫无疑问的；至于后者，与传统ATE比，这些搭建的测试设备虽然比较便宜，但后续的维护成本，是一笔庞大的支出。 进入了最近几年，

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