目录
一. 缺陷性能
二. 经验案例 测试
一. 缺陷
在产品开发的每一个流程中, 都会涉及到缺陷的提出和结局.spa
缺陷的提出, 分为高中低三个等级, 主要集中在代码走查, 集成测试, 系统测试中, 设计
缺陷的解决, 分为Defer/A Bug/Delay/Open/Reopen/Solved等几种状态, 汇总分数会影响项目DI值和我的质量分数. 缺陷解决的时限也要尽可能控制.内存
也会提[高][中][低]缺陷, 大可能是自提. 流程图, 图例, 整体结构图, 各类需求都要注意细节, 按照论文标准编写便可. 开发
- [低] 变量未初始化
- [低] 合理控制打印
- [高] 字符串传入时应同时传入长度, 使得strcat能判断是否放得下, 是否会越界
- [高] 字符串越界
- [中] 检查传入参数
- [中] memcpy复制的风险
- [低] 定义局部变量or全局变量: 有些应用代码中没有用到的变量, 可能提供给SDK库的
- [中] sprintf存在内存泄漏, 建议用snprintf(培训内容)
- [低] return -9; 应使用宏定义(培训内容)
- [高] strncpy对固定字符串不存在风险
- [中] malloc分配空间不足/malloc失败异常处理
二. 经验案例
评审打分项
- 有效性
- 表述完整, 清晰, 无二义, 图文并茂
- 有明确目标和主题
- 使用正确的原理及方法
- 在实际应用中具备成效
- 能够下降成本(人力, 物力)
- 有助于流程合理化和规范化
- 具备创新性, 前瞻性
- 原创或在引用他人基础上思考总结
- 对技术优缺点分析全面
- 能够提升产品性能和质量
- 能够被其它项目或产品借鉴
- 是否就有专利挖掘价值