IC 设计中DFT的Boundary Scan功能
在很大规模的IC设计中，往往会有一些各种各样的bug出现，不论是在前期design的过程，还是在post silicon流片回来chip的flaw，都会导致chip的功能的失败，时钟频率无法达到期望频率。 所以，在超大规模集成电路的设计中，DFT就是一门非常重要的方法学，在消费者手中，往往不知道他们的存在，但是在IC工程师眼中，DFT往往会是一个救命的稻草，让我们在芯片出问题的时候，可以知道从哪下
相关文章
- 1. SOC/DFT——Boundary scan 模块(一）
- 2. IC设计-“DFT设计工程师”
- 3. DFT中的Scan Technology
- 4. SOC/DFT Scan Synthesis practice
- 5. 1. DFT 入门篇-scan chain
- 6. 数字IC低功耗设计总结
- 7. IC设计流程
- 8. 2. DFT 入门篇-scan chain—design rule check
- 9. SOC中的DFT和BIST对比与比较-IC学习笔记（二）
- 10. （数字IC）低功耗设计入门（二）——功耗的分析
- 更多相关文章...
- • Web 创建设计 - 网站建设指南
- • MySQL 5.7的新特性（新功能） - MySQL教程
- • SpringBoot中properties文件不能自动提示解决方法
- • C# 中 foreach 遍历的用法
相关标签/搜索
每日一句
-
每一个你不满意的现在，都有一个你没有努力的曾经。
欢迎关注本站公众号,获取更多信息
