1. DFT 入门篇-scan chain

DFT   --  design  for  test  三要素：辅助性设计， physical defects   结构性测试向量    是一种辅助性设计，利用这种辅助性设计 对根据 physical  defects  建立的 fault  model 进行求解产生的结构性测试向量， 这些结构性测试向量用于检测制造出来芯片的能否正常工作。 scan  chain  包含两个步骤： scan r

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