DFT中的Scan Technology

时间 2021-07-14

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前言：DFT所解决的问题，一句话来概括之，就是：借助特定的辅助性设计，产生高效率的结构性测试向量以检测生产制造过程中引入芯片中的各种物理缺陷。Scan就是此类辅助性设计之一，本期文章就来帮助大家了解Scan技术的具体内容。在深入了解scan技术之前，我们先来比较下分别针对组合逻辑电路和时序逻辑电路的测试过程。很显然，在芯片制造出来后，我们只能通过其输入输出端口来对

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1. SOC/DFT Scan Synthesis practice
2. IC 设计中DFT的Boundary Scan功能
3. 1. DFT 入门篇-scan chain
4. SOC/DFT——Boundary scan 模块(一）
5. 2. DFT 入门篇-scan chain—design rule check
6. DFT中的Fault Model
7. SQLSERVER中的ALLOCATION SCAN和RANGE SCAN
8. 3. DFT 入门篇-scan chain—design rule check set/reset问题
9. dft
10. DFT
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