SOC/DFT——Boundary scan 模块(一）

SOC/DFT——Boundary scan 模块(一） 一、相关概念 DFT 介绍本文之前先介绍几个概念： SOC（片上系统）: 一般采用ASIC来做SOC，即专用集成电路。 DFT（Deign For Test）: 集成电路可测性设计。在很大规模的IC设计中，往往会有一些各种各样的bug出现，不论是在前期design的过程，还是在post silicon流片回来chip的flaw，都会导致ch

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