HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析

HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析 测试概要 测试目的：分析HC32F003系列芯片几种时钟源的性能差别。主要分析频率、占空比的偏差范围。 测试项目：分别测试如下几种时钟源的性能，每种测试很多于10次。 内部高速4MHz 内部高速8MHz 内部高速16MHz 内部高速22.12MHz 内部高速24MHz 内部低速32.8KHz 内部低速38.4KHz 外部高速32MHz 测试环境及工具：

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