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分治之芯片测试
时间 2021-07-13
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一、问题描述 条件:有n片芯片,其中好芯片至少比坏芯片多1片。其中好芯片会给出正确的结果,而坏芯片的结果是不确定的。 问题:使用最少测试次数,从中挑出1片好芯片。 二、问题分析 1. 分析特例 假设有两个芯片A和B,使它们互相测试。结果如下: A报告 B报告 结论 1 B是好的 A是好的 A,B都好或A,B都坏 2 B是好的 A是坏的 至少一片是坏的 3 B是坏的 A是好的 至少
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