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NAND Flash 芯片测试
时间 2019-12-06
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DFT : Design For Testabilityide TTR :Test Time Reduction性能 KGD: Known Good Die测试 NAND Flash 芯片测试主要是为了筛选(Screen Out)出Flash阵列、译码器、寄存器的失效。优化 测试流程(Test Flow)component 从wafer level,到single component level、
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