分治算法：芯片测试

芯片测试 问题描述 方案一：枚举法 设计思路 方案二：分治算法 设计思路 伪代码实现 代码实现 时间复杂度 问题描述 有n片芯片，已知好芯片比坏芯片至少多1片。现在需要通过测试从中找出1片好芯片，测试方法如下：将2片芯片放到测试台上，2片芯片互相测试并报告测试结果（即好或者坏）；其中，好芯片的报告是正确的，而坏芯片的测试报告是不可靠的(即报告结果可能为“好”或者“坏”)。 方案一：枚举法 设计思路

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