NAND FLASH ECC校验原理与实现

转载地址：https://blog.csdn.net/darennet/article/details/8220692 ECC简介 　　由于NAND Flash的工艺不能保证NAND的Memory Array在其生命周期中保持性能的可靠，因此，在NAND的生产中及使用过程中会产生坏块。为了检测数据的可靠性，在应用NAND Flash的系统中一般都会采用一定的坏区管理策略，而管理坏区的前提是能比较可

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