ECC校验

NAND FLASH ECC校验原理与实现 ECC简介 　　由于NAND Flash的工艺不能保证NAND的Memory Array在其生命周期中保持性能的可靠，因此，在NAND的生产中及使用过程中会产生坏块。为了检测数据的可靠性，在应用NAND Flash的系统中一般都会采用一定的坏区管理策略，而管理坏区的前提是能比较可靠的进行坏区检测。 　　如果操作时序和电路稳定性不存在问题的话，NAND F

>>阅读原文<<