mura检测方法
图2展现了开发的流程图方法:前端 一种分割方法来检测区域不均匀。首先检查图像的背景，利用DCT原理和an图像过滤策略。而后能够检测出Mura缺陷并利用所开发的分割策略进行量化。一个首先从TFT LCD单元中获取液晶图像将其变换到频域，而后采用低通滤波策略对其进行滤波，提取其主图像组件。而后是逆离散余弦变换(IDCT)用于重建背景图像。提取不均匀缺陷采用图像减法进行分割从背景图像。紧接着，mura出
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