Mura缺陷检测【1】：svd
//背景抑制，SVD方法，耗时很是严重350*350——900ms，535*535——70s
void SVD_test(Mat & srcImg, Mat & resultMat)
{
double t1 = getTickCount();
Mat temp(srcImg.size(), CV_32FC1, Scalar(0));
srcImg.convertTo(srcImg, CV_3
相关文章
- 1. 检测-基于频域的mura缺陷检测
- 2. Halcon表面检测---高度纹理图像中的mura缺陷
- 3. Mura缺陷检测【3】：Gabor小波滤波器
- 4. Mura缺陷检测【2】：傅里叶变换
- 5. HALCON【缺陷检测】
- 6. OpenCV缺陷检测
- 7. halcon缺陷检测
- 8. 模切缺陷检测，模切产品表面缺陷检测
- 9. AMOLED 显示面板 Mura 缺陷
- 10. mura检测方法
- 更多相关文章...
- • 使用TCP协议检测防火墙 - TCP/IP教程
- • ping命令检测远程主机是否可用 - TCP/IP教程
- • 三篇文章了解 TiDB 技术内幕 —— 说计算
- • ☆基于Java Instrument的Agent实现
相关标签/搜索
每日一句
-
每一个你不满意的现在，都有一个你没有努力的曾经。
欢迎关注本站公众号,获取更多信息
相关文章
- 1. 检测-基于频域的mura缺陷检测
- 2. Halcon表面检测---高度纹理图像中的mura缺陷
- 3. Mura缺陷检测【3】：Gabor小波滤波器
- 4. Mura缺陷检测【2】：傅里叶变换
- 5. HALCON【缺陷检测】
- 6. OpenCV缺陷检测
- 7. halcon缺陷检测
- 8. 模切缺陷检测，模切产品表面缺陷检测
- 9. AMOLED 显示面板 Mura 缺陷
- 10. mura检测方法