简介:这些器件是使用STMicroelectronics的SupermeshTM技术开发的N通道齐纳保护功率MOSFET,经过优化ST基于带状结构的PowerMeshTM布局实现。除了大幅度下降导通电阻外,该装置的设计还可确保最大限度地提升dv/dt的能力。要求苛刻的应用程序。html
STB4NK60Z-1特征:
100%雪崩测试
内在电容很是低
-保护齐纳electron
STB4NK60Z-1应用:
开关应用布局
绝对最大额定值:
漏源电压:600V
栅源电压:±30V
Tc=25°C时的漏电流(连续):4A
Tc=100°C时的漏电流(连续):2.5A
漏电流(脉冲):16A
tc=25°C时的总功耗:70W
降额系数:0.56W/°C
门源人体模型(C=100pF,R=1.5KΩ):3kV
峰值二极管恢复电压斜率:4.5V/ns
储存温度:-55至150°C
最高工做结温:150°C测试
电气特性(T = 25°C的案例,除非另有规定):
开/关状态优化
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