静态时序分析的基本方法06
其他芯片变化相关分析模式 随着制造工艺越来越先进，在时序分析规模不断增大的同时，对时序分析精度的要求也越来越高，因此常规的芯片变化相关分析模式已经无法满足当前更高级的时序分析要求。 本节将介绍两种更高级的芯片变化相关分析模式：高级芯片变化相关分析模式和参数化芯片变化相关分析模式。 高级芯片变化相关（AOCV）分析模式 在真实状态下
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