芯片测试太耗时？新一代TetraMAX II工具将运行速度提高一个数量级

芯片测试太耗时？新一代TetraMAX II工具将运行速度提高一个数量级 2016年7月20日 Franklin Zhao TetraMAX II将运行速度提高一个数量级，确保在初步硅晶样品首次用于测试时将向量准备就绪。此外，TetraMAX II生成的向量数量减少25%，使IC设计团队能够缩短测试硅片的时间并减低成本，而且还能应汽车等特殊市场细分的要求。 各个晶圆厂如中芯国际、台积电、三星和英特

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