2020-10-22 文章阅读 EIN

文章阅读 - Understanding and Modeling On-Die Error Correction in Modern DRAM: An Experimental Study Using Real Devices 1. Summary 1)for what problem? 目前的DRAM chip很多使用了ECC,并且对于研究者能看到的测试数据也是经过ECC纠错以后的数据,而这掩
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