集成电路中测试概述（二）

这篇文章主要讲一下基于扫描路径的可测性设计。 对于一个组合逻辑的电路，电路中的故障可以通过输入端口施加向量进行激励。而对于一个复杂、端口有限的时序电路，只能采用基于扫描路径的可测性设计方法来实现对电路的可控制性和可观测性。在该方法中首先需要将非扫描单元如寄存器用扫描单元取代，如下图所示：   这种结构非常简单，但却非常巧妙。当电路中的寄存器用扫描寄存器取代以后，在扫描模式下，电路中的时序路径可以变

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