CMOS版图课程第七讲--可靠性设计，视频截图节选
本节主要内容： 1、天线效应 2、闩锁效应n 3、静电放电保护（Electro-Static Discharge ，ESD） 4、数模混合集成电路版图设计 课程地址： https://study.163.com/course/introduction.htm?share=2&shareId=400000000676048&courseId=1209174834&trace_c_p_k2=40c
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