CC2640R2F学习笔记二：昇润科技开发资料阅读

本文档针对昇润科技提供的 TTC BLE SDKCC2640 部分硬件特性测试.pdf 文档 阅读，整理相关问题。 1、第一部分提到了ADC精度的问题，其提出了一种ADC验证电路框架，不是特别合理。 ① 采用两个1M的电阻分压进行ADC采样，是出于功耗的考虑，没啥问题。 ② 实际上两个1M的电阻分压输入到MCU引脚端口的时候，因为IO关机哦啊的而阻抗大约在几十K的样子，会形成阻抗不匹配的情况，影响

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