高压之下，必有懦夫

在设计无线充电系统的过程中，需要对选择的功率MOS的耐压进行测试。虽然在新品的数据手册上已经给出了芯片的耐压等级，但是之前很少通过实验来判断芯片在高压下出现击穿的过程和效果，所以通过简单实验来观察芯片的耐压情况，这也为系统设计中芯片耐压余量的选择打下基础。 如下是利用了一个废弃空调中臭氧离子发生器中的高压模块，形成的一个可控的高压电源。它输出的高电压有输入的直流工作电源所确定。 外部增加上击穿限流

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