CDE Resmap 4 探针电阻值测试系统

CDE 4 探针电阻值测试系统 CDE Resmap 系统知足你全部的需求。 不论是在研究实验室仍是须要高净化要 求的半导体生产车,它均可以完成连续24/7片从低到高,多数量连续测试的需求。不论 你是在化学研磨抛光(CMP),扩散,离子注入部门,或者在导电薄膜研究, CDE的 RESMAP 系统能够知足您工艺上和测量需求发展上甚至是预算方面的要求。测试 Resmap系统提供的是准确、可重复使用的,
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