性能测试总结

  1.     三者关系图   2.  结论   小并发数区间测试，找拐点（如：100-300并发持续5分钟，可以发现上图中200并发时出现拐点） 大并发数区间测试，找符合需求的最大并发数（如：1800-2200并发持续5分钟，可以找到满足响应时间在3秒内的最大并发数2000） 利用最大并发数，压测环境在极限时的资源消耗（压测时间1小时以内） 80%最大并发数，进行稳定性测试（压测时间1小时以上

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