De-embedding技术总结

RF工程师们依赖于矢量网络分析仪(VNA)来测量RF元件的S参数,从而进行描述以及后续的设计。测量中会出现一个问题,即这些元件往往是表贴式,因此不能与VNA直接相连。简单的印刷版(PCB)测试装置往往都会表贴上待测器件(DUT)以便与VNA相连接,如图1所示。然而,这些测试装置本身会为S参数测量带来一些寄生效应,因此,需要De-embedding技术进行消除。 图1 一、De-embedding技

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