“后来的我们，都去学DFT”

在超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，方便芯片生产之后能够迅速测试区分芯片的好坏。在要求比较苛刻的芯片中，还通过进一步的设计中，能够准确地定位错误发生在哪个地方，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。 由于相关人才稀缺，DFT工

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