嵌入式测试：IAR单元测试示例

    嵌入式测试一般涉及硬件的模拟与控制，须要在单元测试用例中随意模拟和控制硬件行为，以及模拟中断对全局变量的修改，并解决死循环、超时等问题。使用 Visual Unit 4 ，经过在测试用例中设置内部输入，能够随意模拟和控制硬件行为；利用测试用例的屡次赋值功能、跳过底层函数等功能，能够轻松解决死循环、超时等问题。用Visual Unit 4作嵌入式单元测试特别舒服。

    这是Visual Unit 4.0 Beta2实现嵌入式测试的示例，产品代码为IAR项目。单元测试针对的是代码功能逻辑，嵌入式测试也同样。对于了解代码功能的人来讲，测试功能逻辑不难，但可能碰到前述的各类问题，使单元测试过程受阻，所以，本示例并未对代码功能逻辑完成测试，只是说明嵌入式测试过程当中可能遇到的问题及如何利用Visual Unit 4的特有功能解决这些问题。

    一、使用IAR模板新建工程，能够直接经过编译，但会产生main函数重定义错误，由于测试工程也有一个main函数。可在产品代码中对main函数作以下修改：
    #ifndef _VUNIT
    int main()
    {
        ...
    }
    #endif 

    二、函数SPI_RWData的第三个参数若是为NULL，会崩溃，但好几个函数调用SPI_RWData时都直接传递0，所以都会崩溃。应该先修改它的代码，对第三个参数判断空指针。示例中的产品代码已做了修改，在使用第三个参数前判断是否为空指针。在嵌入式测试过程当中，若是某个底层函数执行时崩溃，一般应该先对该底层函数进行测试。

    三、函数Delayms会致使死循环，测试须要调用Delayms的函数时。嵌入式测试中，底层函数死循环是比较常见的。可将底层函数设为skit it跳过，或设置底层输入，方法是在左边代码窗口中，双击函数如Delayms，在弹出的窗口中，选中要设置底层输入的变量，并在表格中填数据，若是不须要设底层输入，则选中skit it。skit it是测试用例的一种特殊变量，其意义是直接跳过该函数。若是在某一用例中不跳过，需将其值设为-1。

    四、在嵌入式测试工做中，若是被测函数调用的底层函数崩溃，但底层函数是别人写的，能够经过对底层函数设置底层输入或skit it来避免崩溃。这一点与死循环相似。

    五、以下函数：
    void Delay100us(WORD us)
    {
        TIM_Cmd(TIM2,DISABLE);
        TIM2 -> CNT = 0;
        TIM2 -> ARR = us * 100;
        TIM_Cmd(TIM2, ENABLE);///< 开启定时器
        while(TIM_GetFlagStatus(TIM2,TIM_FLAG_Update) == RESET)
        {__NOP();}
        TIM_ClearFlag(TIM2,TIM_FLAG_Update);
        TIM_Cmd(TIM2, DISABLE);///< 关闭定时器
    }
    红色代码可能形成死循环，这在嵌入式测试中也很常见，解决办法是使用屡次赋值，让while中的条件先为真，以便执行循环，最后返回假，以便跳出循环。具体来讲，能够这样处理：对TIM_GetFlagStatus设置底层输入，让它的return值为RESET和1，即在表格中填RESET;1，这叫屡次赋值（分号隔开多个值），第一次调用会返回RESET，第二调用为返回1。这里，RESET的值为0。

    六、总结：用Visual Unit 4作嵌入式单元测试特别舒服，嵌入式代码在单元测试时常常会产生死循环之类的问题，并须要对硬件作各类控制，包括对中断改写全局变量的修改，这些，用Visual Unit 4均可以很轻松作到，一般只是点几下鼠标，在表格中填数据就能够了。

    七、代码下载（包括IAR的头文件，被测试代码及测试工程）：
    http://www.kailesoft.com/download/resource.html