上采样

在做图像分割的时候，需要对图像进行像素级别的分类，因此在卷积提取到抽象特征后需要通过上采样将feature map还原到原图大小。常见的上采样方法有双线性插值、转置卷积、上采样（unsampling）和上池化（unpooling）。其中前两种方法较为常见，后两种用得较少。下面对其进行简单介绍。 1、双线性插值 双线性插值，又称为双线性内插。在数学上，双线性插值是对线性插值在二维直角网格上的扩展，用

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