DFT--Design For Test

  一、DFT概念：可测试性设计 狭义理解：是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。 广义理解：不仅包括为自动化测试所设计的测试逻辑 ，还涵盖了测试向量的产生，测试结果的分析等。 二、DFT存在的意义 筛选出出错的芯片：open/break 定位错误位置 提高工艺，提高良率。 浴盆曲线.png 故：不能实现质量的100%。

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