ESD与EOS（surge）防护器件选型

ESD:electronstatic discharge 静电放电 现象：有限的大量的电荷在不同电位体之间快速转移的一种放电现象。 产生原因：摩擦，接触，耦合感应等。 特点：时间短（ns级），电压高（kv）,电流大（A）。 测试规范与方法：IEC61000-4-2，ESD GUN EOS：electrical over stress 电性过应力 现象：高压或者大电流导致芯片内部损坏，发热，从而伴随

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