学习笔记——VLSI测试方法学和可测性设计

VLSI测试方法学和可测性设计-雷绍充 著 本周开始复习集成电路测试与可测性设计，参考教材为VLSI测试方法学和可测性设计。 Chapter0 概述 第一部分：构造准确的失效模型、对原型设计的模型生成高效率的测试代码、进行测试结果分析 第二部分：电路模拟方法、组合电路和时序电路的确定性生成方法 第三部分：可测性分析。电路是否容易测试、电路功能正确、是否容易在输入端是假信号、输出端观察电路响应 第四

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