痞子衡嵌入式：经常使用的数据差错控制技术（0）- 索引

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　　你们好，我是痞子衡，是正经搞技术的痞子。本系列痞子衡给你们讲的是嵌入式经常使用的数据差错控制技术，共6篇文章，按部就班地介绍6种经常使用的差错控制技术。

　　通讯发展史与数据编码技术发展息息相关，为了检测与纠正在通讯中发生未知的数据错误，经常须要在原始数据编码时要引入一些技巧，这些技巧就是所谓的编码技术。仔细看下面这张图，想象本身就是其中的一个bit，是否是有身临其境地感觉数据通讯编码的感受？是的话，欢迎阅读本系列文章。

　　本系列文章选取了用于差错控制的六大经典的编码校验方式，在进入正文以前，咱们先用一张表对比这六大校验技术差别：

校验法对比

校验方法	数据块大小	校验码长度	检错能力	纠错能力	适用场合	失效分析	行业应用
重复校验	n bits	(q-1)*n bits q为重复数	不限bit错误	x bits 但并不可靠	数据块小且对传输效率无要求	检错：重复码与原码出错bit位一致 纠错：错误码几率大于原码	加强实现版本用于FlexRay通讯协议
奇偶校验	n bits	1 bit	奇数个bit错误	无	数据块小且通常只发生1bit错误	偶数个bit错误	串口UART通讯协议
和校验	n bytes	1 byte	不限bit错误	无	数据块中等且错误bit较少	多个bit错误致使的增量和能整除0x100	hex, s-record文件
循环冗余校验	n bytes	1/2/4/8 byte	不限bit错误	设计初衷仅检错，原理上也可纠错(算法复杂)	数据块大且错误bit无规律	多个bit错误致使碰撞现象（即错误数据CRC与原数据CRC刚好相等）	Modbus RTU模式，USB通讯协议
汉明码校验	256/512 bytes	22/24 bits	2 bit错误	1 bit错误（仅发生1 bit错误时）	数据块较大但常只发生1/2 bit错误	多于2 bit错误	SLC NAND Flash ECC
BCH码校验	(m*k) bits m组k位	(m*n) bits n>k	(x+1) bit错误	x bit错误	数据块较大且容易发生多bit错误	多于(x+1) bit错误	SSD NAND Flash(MLC/TLC) ECC

正文篇（持续更新中...3/6）

经常使用的数据差错控制技术（1）- 重复校验(Repetition Code)
经常使用的数据差错控制技术（2）- 奇偶校验(Parity Check)
经常使用的数据差错控制技术（3）- 和校验(Checksum)

经常使用的数据差错控制技术（4）- 循环冗余校验(CRC)
经常使用的数据差错控制技术（5）- 汉明码校验(Hamming Code SEC-DED)
经常使用的数据差错控制技术（6）- 博斯-乔赫里-霍克文黑姆码校验(BCH Code)