IC讲解： 如何区分CP测试和FT测试

对于专业的测试人员关于CP和FT的测试确定是很是的了解了，但不少非测试专业的从业人员对这两个概念其实了解并不像那样深入。因此本文将对于那些须要接触测试但不是测试人员的人进行关于CP和FT的测试的讲解。web 按照国际惯例，首先须要再解释一下什么是CP和FT测试.CP是（Chip Probe）的缩写，指的是芯片在wafer的阶段，就经过探针卡扎到芯片管脚上对芯片进行性能及功能测试，有时候这道工序也被

>>阅读原文<<