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NFA100-E 闪存测试仪
时间 2021-07-13
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闪存测试
NAND Flash
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电压拉偏测试
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NFA100-E是一套功能强大且极具灵活性的Nand Flash分析系统,它最大限度地满足用户的对于Nand Flash的信息分析需求以及对这些信息的再处理需求,用户还可以通过API和脚本(Script)来扩展任何自定义的测试或分析功能。 NFA100-E主要面向:企业闪存控制开发人员、高校教授及硕士、博士进行闪存研究、以及各种特殊单位进行闪存的安全性、可靠性研究的研发人员。 技术指标: 1、支持
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