电阻、电容、电感、半导体器件的失效分析！

本文转自《电源研发精英圈》web 引言 电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来说电子元器件失效是个很是麻烦的事情，好比某个半导体器件外表无缺但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间，有时甚至炸机。 因此掌握各种电子元器件的实效机理与特性是硬件工程师比不可少的知识。下面分类细叙一下各种电子元器件的失效

>>阅读原文<<