一窥Memory测试算法及自我修复机制

  摘要 为了满足新一代设备的需求，Memory的大小每三年就会增加4倍。深亚微米设备包含大量面积更小、访问速度更快的Memory。针对此类设计制定自动测试策略可以减少ATE（自动测试设备）的时间和成本。 内存故障的行为与经典的“Stuck-At”故障不同。因此，Memory的故障模型（由于其阵列结构）与标准逻辑的设计也是不同的。Memory测试除了进行故障检测和定位，还可以实现用冗余单元对故障单

>>阅读原文<<