《电子元器件的可靠性》——3.2节抽样理论及抽样方法

本节书摘来自华章社区《电子元器件的可靠性》一书中的第3章，第3.2节抽样理论及抽样方法，作者王守国，更多章节内容可以访问云栖社区“华章社区”公众号查看 3.2　抽样理论及抽样方法　　 电子元器件由于批量大，可靠性高，对于其寿命和可靠性常采用抽样检验的方法，特别是破坏性试验、抽样检验显得更重要。所谓抽样检验是指依照规定的抽样方案和抽样程序，从批（一批产品或一个制造过程的日产量等）产品中随机地抽取若干

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